Prüfung photonischer integrierter Schaltungen (PIC) mit automatisierten Prüfstationen

Unsere Teststationen sind mit modernster Technik ausgestattet, um in jeder Situation die Anforderungen zu erfüllen. Stellen Sie sich die optimale Station für Ihre Bedürfnisse zusammen – egal ob Sie einzelne Chips für die Forschung und Entwicklung oder komplette Produktionswafer testen. Die adaptiven Teststationen von EXFO sind für jedes Szenario geeignet, von einzelnen Chips bis hin zu kompletten Produktionswafern im Bereich photonischer integrierter Schaltungen (PIC). Statten Sie Ihre Station nach Bedarf mit HF-Sonden, optischen Messköpfen oder weiterer Ausrüstung aus.